2. 设计工具

ChipScope Pro 和串行 I/O 工具套件

ChipScope™ Pro 工具可在您的设计中直接插入逻辑分析器、系统分析器以及虚拟 I/O 小型软件内核，从而使您能够查看任意的内部信号或节点，包括嵌入式软硬处理器。系统以工作速度捕获信号，并通过编程接口输出，从而可大幅减少设计方案的引脚数。捕获到的信号随即通过 ChipScope Pro Analyzer 工具进行显示和分析。

此外，ChipScope Pro 工具还能通过 ATC2 软件内核与您的 Keysight Technologies 测试设备相连接。该内核能使 ChipScope Pro 工具和 Keysight 的 FPGA 动态探头插件选项保持同步。AMD 与 Keysight 独特的合作伙伴关系使您能够在 FPGA 器件上使用更少的引脚来实现更深入的跟踪存储器、更快的时钟速度、更多的触发器选项以及系统级测量功能。

ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件让您能够快速、轻松地实现高速 FPGA 设计中串行 I/O 通道的交互式设置和调试。ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件使您能够进行多通道误码率 (BER) 测量，并实时调整高速串行收发器参数，同时还能保持串行 I/O 通道与系统其他部分的互动。

支持的器件系列

ChipScope Pro ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件
Artix™ 7
Zynq™ 7000
Kintex™ 7 FPGA (All)
Virtex™ 7 FPGA (All)
Virtex 6 FPGA (All)
Virtex 5 FPGA (All)
Virtex 4 FPGAs (All)
Spartan™ 6 FPGA (All)
Spartan 3A/3AN/3A DSP/3E/3 FPGA (All)		 Kintex 7 FPGA、Virtex 6 FPGA (LXT、SXT 和 HXT)
Virtex 7 FPGA
Virtex 5 FPGA (LXT 和 FXT)
Virtex 4 FPGA (FX)
Spartan 6 FPGA (LXT)
  • 全新发RX 裕量分析工具充分利用 7 系列收发器中的眼图扫描功能，实现实时互动特性描述和信道质量优化或离线查看测试结果
  • 分析所有内部 FPGA 信号，其中包括嵌入式处理器系统总线等
  • 在设计输入过程中或综合之后，插入小型可配置软件内核
  • 所有 ChipScope Pro 核均通过 AMD CORE Generator™ 系统提供
  • 分析器触发与捕获功能的增强使重复测量变得简单易行
  • Virtex 5 与 Virtex 6 系统监控器控制台的增强功能使我们能够更轻松地获取片上温度、电压以及外部传感器数据
  • 无需重新实施设计即能更改探测点
  • 通过网络连接进行远程调试，从办公室到实验室，甚至是跨越全球
  • 将 ChipScope 内核插入及生成功能集成到 Project Navigator 与 PlanAhead 工具流程中
  • 利用 HDL（VHDL 和 Verilog）或约束文件直接添加调试探头
  • 轻松、快速地实现 FPGA 串行 I/O 通道的交互式设置和调试
  • 同时测量多个通道上的 BER
  • 在您的串行 I/O 通道与系统的其他部分进行交互的同时，实时调整高速串行收发器参数
  • 包括众多标准 ITU 标准模式等在内的内置模式生成器和检查器
  • IBERT (Bit Error Ratio Tester) 扫描测试图 GUI
    • 带有内置的图形查看器，显示 Virtex 6 GTX / GTH FPGA 收发器的 IBERT 扫描测试结果
    • 用于离线 IBERT 分析的独立图形查看器能够扫描Kintex 7 FPGA GTX、Virtex 7 FPGA GTX、Virtex 6 FPGA GTX/GTH、Spartan 6 FPGA GTP 及 Virtex 5 FPGA GTX 收发器的测试结果
  • 仅需 JTAG 端口即可访问您的开发板、而无需额外的引脚就能实现专用的高速串行调试或设置
  • 以 2 种不同的扫描算法支持 Kintex 7 GTX 、Virtex 7 GTX/GTH/GTZ 和 Artix 7 GTP RX 裕量分析工具：
    • 2D 全面扫描：在“视线”范围内扫描所有垂直和水平偏移采样点
    • 1D Bathtub: 通过 0 垂直行偏移量扫描所有水平采样点

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