缺陷检测加速应用

缺陷检测加速应用是一种机器视觉应用,可使用计算机视觉库功能自动检测缺陷、产品(例如水果、PCB)的成熟度以及在高速工厂管道中进行分类。

缺陷检测加速应用框图

特性:

  • 2MP​ 下的低延迟缺陷
  • 水果缺陷检测和分类
  • HDMI 或 DIsplayPort 输出
  • 用户可编程 CV 模型
  • 包含硬件设计的完整应用
常见问题解答

不,该应用不需要任何 FPGA 设计经验。

此应用由 Xilinx 免费提供。

否,该应用已针对 OnSemi AR0144 进行了优化和测试。为了使该应用适应另一个传感器,您将必须更新设计并针对新传感器优化应用。

主要资料
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推出自适应 SOM (System-on-Module)

了解有关自适应 SOM 的所有信息,以实例解释了自适应 SOM 为什么适合下一代边缘应用,以及如何在下一代边缘应用中部署自适应 SOM。本书还强调了智能视觉提供商如何从只有自适应 SOM 才能实现的性能、灵活性及快速开发等优势中获益。

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